X射线荧光,x射线荧光分析仪是利用射线轰击样品,测量所产生的

1、X射线荧光吸收光谱图中,吸收限的产生原理?

1、常见的X射线光管就是采用的这种原理。其X射线能量分布如下：强度 能量 同位素X射线源。同位素在衰变过程中，其原子核释放的能量，被原子的内层电子吸收，吸收后跳出内层轨道，形成内层轨道空位。

2、因入射x射线光子能量(与波长有关)恰好能激发某元素原子能级时，x射线能量被大量吸收，产生吸收突变，故称吸收限。

3、它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。

4、处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线，称为荧光X射线，此种辐射又称为荧光辐射。

5、原子吸收限跃变比：核辐射场与放射性勘查 式中： 为吸收限高能边的原子吸收系数； 为吸收限低能边的原子吸收系数。1)吸收跃变比与原子序数有关，随Z增大，跃变比γi逐渐减小。

6、当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。

2、简述产生x射线荧光的原理

1、x光的成像原理有：X线具有穿透性、荧光效应和摄影效应。

2、x射线产生的原理是：用加速后的电子撞击金属靶。

3、在电子补充（跃迁）的过程中，会以光子形式辐射出能量，这种光子就形成了X荧光。当这种荧光被探测器检测到时，我们就能看到样品中各元素的组成成份。

3、X射线荧光分析的基本介绍

X射线荧光光谱分析仪的主要部件为：激发源、探测器、高压电源、前置放大器、主放大器、模数转换器。获得X射线荧光光谱的方法 X射线荧光光谱法，即X射线发射光谱法，是一种非破坏性的仪器分析方法。

它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。

处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线，称为荧光X射线，此种辐射又称为荧光辐射。

4、X射线荧光的产生

1、处于激发态的原子，要通过电子跃迁向较低的能态转化，同时辐射出被照物质的特征X射线，这种由入射X射线激发出的特征X射线，称为荧光X射线，此种辐射又称为荧光辐射。

2、为了与照射物质的X射线(初级X射线)相区别，将被照射物质发出的X射线(二次X射线)称为荧光X射线(荧光即光致发光之意)。

3、荧光分析法是材料元素分析的一种方法，它是利用一定波长的x射线照射材料，元素处于激发态，从而产激发出光子，形成一种荧光x射线。

4、荧光的产生是由于初始X射线光子能量足够大，以致可以在样品中产生电子—空穴，导致二次辐射(荧光)的产生。这种二次辐射是组成样品的元素的特征。

5、当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。

6、特征x射线为电子击靶，使原子内层电子击出，外层电子跃迁而激发出x射线；荧光x射线为x射线照射使原子内层电子激发，外层电子跃迁而发出x射线，也叫二次特征辐射。